TESEQ 傳導干擾測試(Conduction Emission)
CVP 2200A

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CVP 2200A

傳導干擾測試(Conduction Emission)
電容性電壓探棒
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產品介紹
產品應用

容性電壓探頭 

  •   符合CISPR 22 和CISPR 16-1-2 標準要求
  •   電池或電源供電
  •   開關轉換因數
  •   將電容耦合從本地線纜上直接遮罩掉
  •   套件中配有校準夾具

 

產品特點:

容性電壓探頭（CPV）用於測量非對稱干擾。它不用斷開被測電纜("in-situ”)進行測量，以避免了傳輸的影響。
CPV的主要參數耦合因素，在50Ω阻抗校準系統內進行測量。容性電壓探頭在5.2.2章和CISPR 16-1-2中有明確規定。

容性電壓探頭用於測量通訊連接埠的四條以上平衡對線和非平衡對線。

 

  •      CISPR 16-1-2 

  •      CISPR 22

  •      CISPR 32 

  •      EN 61000-6-3 

  •      EN 61000-6-4

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